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簡要描述:X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器是無損測厚儀,有著非破壞,非接觸,多層合金測量,快速簡潔只需要10秒即可得出測量結(jié)果,是質(zhì)量控制、節(jié)約成本的Z佳檢測工具。奔藍(lán)科技供應(yīng)英國牛津儀器所有零配件:鍍層測厚儀類:牛津光管、高壓包、接收器、鍍層標(biāo)準(zhǔn)片、Z軸控制板、24V電源等。。。銅厚測厚儀類:孔銅探頭、面銅探頭、孔銅標(biāo)準(zhǔn)片、面銅標(biāo)準(zhǔn)片等。。。
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器
產(chǎn)地:英國 型號:MAXXI 5 品牌:牛津儀器OXFORD
牛津MAXXI5系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析?;赪indows 7中文視窗系統(tǒng)的中文版X - MasteR FP應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對MAXXI 5主機(jī)的全面自動化控制,分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定??赏瑫r測定zui多5層、20種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
MAXXI5系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點(diǎn)zui小可達(dá)0.06*0.06毫米。
MAXXI5系列采用開槽式樣品室,它可提供二種規(guī)格的樣品臺供用戶選用,分別為:
? 標(biāo)準(zhǔn)手動樣品臺:XY軸手動控制、Z軸自動控制。
? 程控樣品臺:XYZ軸程序控制。
X-RAY射線鍍層測厚儀 牛津儀器
MAXXI 5主要技術(shù)規(guī)格如下:
No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述
1 激發(fā)系統(tǒng) 垂直從上至下照式光學(xué)系統(tǒng)
牛津原產(chǎn)空冷式微聚焦型X射線管,Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材: W
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)
功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘
2 截譜技術(shù) 提供*的元素截譜技術(shù),可分辨出相憐元素的信號,如Cu/Ni等元素,無需配置濾光片,從而達(dá)到優(yōu)化信號強(qiáng)度的功能。
3 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) zui多可同時裝配4種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序切換控制
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:0.3mm 或0.5mm或多準(zhǔn)直器系統(tǒng)
-0.06 x 0.06mm, 0.05 x 0.15mm, 0.1mm,0.2mm Ø
4 測量斑點(diǎn)尺寸 在35mm聚焦距離時,zui大測量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6 樣品室
-樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
-樣品臺尺寸 500mm x600mm(手動臺) 300mm x250mm(自動臺)
-XY軸程控移動范圍 標(biāo)準(zhǔn):300 x 250mm
-Z軸程控移動高度 170mm 程控平臺, 170mm
手動平臺, 350mm
-XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
-樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實(shí)時CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為20倍。
激光輔助定位功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能(選配)
光學(xué)自動聚焦功能
7 計算機(jī)系統(tǒng)配置 德國隨主機(jī)配置電腦主機(jī),配置不低于2048道連續(xù)近處理ADC(數(shù)模轉(zhuǎn)換器),計算機(jī)壓縮為512個通道。臺式或直立式機(jī)箱電腦*的中央處理器,例如IN Pentium or AMD Athlon。HDD, DVD-ROM, RAM,鍵盤,鼠標(biāo)
8 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):Windows7.0中文平臺
分析軟件包:X-MasteR FP軟件包
-無標(biāo)樣分析程序 Fun- MasteR
應(yīng)用程序向?qū)АT跓o標(biāo)樣情況下使用基本參數(shù)法生成厚度測量應(yīng)用。簡單,三步模式創(chuàng)建一個新的應(yīng)用,無需使用標(biāo)準(zhǔn)樣品。避免大量,昂貴的厚度標(biāo)準(zhǔn)片。
-測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。不同元素不同應(yīng)用設(shè)備Fun-MasteR提示厚度測試范圍
-基本分析功能 無標(biāo)樣檢量線測厚,可采用一點(diǎn)或多點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)樣品自動進(jìn)行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍:Ti22 – U92
可同時測定5層/20種元素/共存元素校正
組成分析時,可同時測定20種元素
貴金屬檢測,如Au karat評價(選配)
材料和合金元素分析
材料鑒別和分類檢測(選配)
液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量(選配)
元素光譜定性分析
-調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能:校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響,自動消除系統(tǒng)漂移
譜峰計數(shù)時,峰漂移自動校正功能
譜峰死時間自動校正功能
譜峰脈沖堆積自動剔除功能
標(biāo)準(zhǔn)樣品和實(shí)測樣品間,密度校正功能
譜峰重疊剝離和峰形擬合計算
-測量自動化功能 鼠標(biāo)激活測量模式:“Point and Shoot”
多點(diǎn)自動測量模式:多點(diǎn)順序和重復(fù)測量模式
自動對焦功能
-樣品臺程控功能 可通過鼠標(biāo)或是遙控桿控制XYZ軸,可通過XYZ-Stage設(shè)定多
點(diǎn)測試程序。
-統(tǒng)計計算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)庫存儲功能,可存儲帶樣品圖像的Word報告,模板客戶可自定義。
任選軟件:統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
-系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護(hù)傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng):操作員、工程師
吳生:151九零一九4078
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